为什么要多维度探寻绝缘缺陷
在绝缘材料、高压半导体器件、线缆、脉冲变压器、高频电机、高压电容器等元部件绝缘性能分析时，常常需要综合应用绝缘电阻（IR）测试、交/直流耐电压强度（ACW/DCW）测试和局部放电(PD)测试，以全面评判被测品的绝缘性能。其中，IR测试可粗略判断试品绝缘性能，ACW/DCW测试可判断试品是否短期内能承受住设定高电压，而PD测试可评估试品长时间承受设定高电压的能力。
绝缘缺陷，局部放电综合测试仪新融合了什么
本仪器创新的融合了ACW、DCW、IR等安规测量技术与数字化局部放电（PD）测量技术，实现在0.1kV~10kV测试电压下，进行20mAac/10mAdc的交流/直流耐电压测试、1MΩ~100GΩ绝缘电阻测试、1pC~10000pC局部放电测试等多项功能，可满足高频变压器、线缆、绝缘膜、高压隔离集成电路（光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片等）、半导体高压开关（IGBT、MOSFET等），及高压绝缘组件（如隔离基板）、低容值高压电容器等多种器件的安规+局放综合测量需求，对发现隐藏在试品中的弱绝缘缺陷展现出卓越的性能。
本仪器符合标准：
IEC60270-2015（GB/T 7354-2018）高电压试验技术 局部放电测量
同时也适用于特定器件的局放测量标准，如光隔离器安全标准（IEC60747-5-5）、数字隔离器安全标准（IEC60747-17）、低电压设备安全标准（IEC60664-1）、半导体开关组件标准（IEC 60747-15）等；
产品性能特点有哪些
（2）为适应局放检测标准和研发的需求，分别设置各段的上升时长、保持（测试）时长、下降时长、预置电压、目标电压、下降电压等。
（3）强大的局部放电辨识算法，具有单局放测量能力。
（4）局部放电校准器采用Lora无线通信，由局部放电测试仪界面设置参数并启动校准，可配置脉宽、个数、周期、重复率等参数，校准启动后自动调节增益、不需人为干预，一键完成，操作简便。
产品选型系列有哪些
