新品简介
CS19010局部放电测试仪是一款适用于高压隔离集成电路（如光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片）、半导体高压开关（如IGBT、MOSFET），高频变压器及高压绝缘组件（如隔离基板）、低容值高压电容器等器件局部放电和耐压测试的综合测量设备，可实现0.1kV~10kV范围内耐压测试和局部放电测试。
CS19010局部放电测试仪采用试品串联耦合测量模式，测试方法符合通用局放测量标准GB/T7354-2018 （IEC60270：2000），同时也符合特定器件的局放测量标准，如光隔离器安全标准（IEC60747-5-5）、数字隔离器安全标准（IEC60747-17）、低电压设备安全标准（IEC60664-1）、半导体开关组件标准（IEC 60747-15）等；具有自定义高压输出模式、多种测量条件合格判断功能，用户可根据需求柔性组合，实现0.01uA~1mA泄漏电流测量和1pC~10000pC局部放电测量，可满足大多数集成隔离器件和高绝缘材料的产品品质测试需求。
CS19010局部放电测试系统：
CS19010A主机、CS19010B局部放电测试模块、CS19010C局部放电校准器
适用标准：
GB/T7354-2018（IEC60270：2000）、IEC60747-5-5、IEC60747-5-18、IEC60664-1
IEC60270：2000 method b1测试时序图
产品特点
可用于外部电磁环境恶劣的工业现场，针对工厂生产线可能存在的强干扰，CS19010在常规噪声抑制方法基础上，还采用了多种提高测试准确度的方法：
工业应用中的典型干扰
针对IEC60747-5-5提出的常规测试中100%检测的需求，优化系统架构，以100ms刷新率高速实时显示启动测试后的最大放电量，当前测试周期的瞬时放电量、超过规定局放的次数等。
为适应局放检测标准和研发的需求，CS19010可自定义高压输出模式，根据需求，任意波形分段，分别设置各段的上升时长、保持（测试）时长、下降时长、预置电压、目标电压、下降电压等。
强大的局部放电辨识算法，具有单局放测量能力。
高可靠性，CS19010采用独特的输入单元保护电路，解决非接地的串联耦合模式输入低端易受干扰、被测品瞬间短路时的安全性问题。
局部放电校准器采用Lora无线通信，由局部放电测试仪界面设置参数并启动校准，可配置脉宽、个数、周期、重复率等参数，校准启动后自动调节增益、不需人为干预，一键完成，操作简便。
被测品串联耦合测试回路
推荐选型
应用测试
CS19010局部放电测试仪的主要应用领域：（1）工业生产，依据相关标准在高压器件（组件）生产过程中进行局部放电常规测试或现场诊断测试；（2）科学研究，对高压绝缘材料进行局部放电特性研究或绝缘劣化过程研究。
测试对象：光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片、半导体高压开关（如 IGBT、MOSFET），高频变压器、高压绝缘组件（如隔离基板）、高压电容器等。
